X射线衍射仪
X射线衍射仪
| 仪器名称 | X射线衍射仪 状态【运行】 |  |
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| 英文名称 | X-Ray Diffractometer（XRD） | ||
| 规格/型号 | */DX-2000 | ||
| 生产厂商 | 丹东方圆 | ||
| 国别 | 中国 | ||
| 性能指标 | 管电压：10～60kV X射线管：铜靶（波长1.54184埃） 测角仪结构：立式 2θ角扫描范围：0°～164° 扫描方式：θ～2θ联动，θ、2θ单动；连续或是步进扫描 管电流：5～80mA 稳定度：≤0.01﹪ 衍射圆半径：185mm 扫描速度：0.06°～76.2°/min 测量准确度：≤0.005° | ||
| 主要应用 | DX－2000型X射线衍射仪适用于物质微观结构的各种测试、分析和研究。应用于材料、化学、化工、机械、地质、矿物、冶金、建材、陶瓷、石化、药物及高科技材料研究等领域。可对单晶、多晶和非晶样品进行结构分析，如物相定性行业定量分析（RIR定量、内部标准法、外部标准法、标准添加法），衍射谱图指标化及点阵参数测定，晶粒尺寸及点阵畸变测定，衍射图谱拟合修正晶体结构（WPF），残余应力测定，结构分析（ODF表示立体极图），结晶度、薄膜测定。 | ||
| 样品要求 | 衍射试样可以是金属、非金属的块状、片状或各种粉末。 试样对晶粒大小、试样厚度、择优取向、应力状态和试样表面平整度等都有一定要求。试样晶粒大小要适宜，在1－5微米左右最佳。对粉末，不能有择优取向（织构）存在，否则探测到的X射线强度分布不均匀；也不宜有应力存在，应力将使衍射峰宽化，2θ角测量精度下降。试样表面的平整度越高越好，但在表面平整的过程中注意不要引入摩擦应力。 | ||
终审：安徽省陶铝新材料产业共性技术研究中心
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