透射电子显微镜(含能谱，CCD相机，多样品杆)

仪器名称	透射电子显微镜(含能谱，CCD相机，多样品杆) 状态【运行】
英文名称	Transmission Electron Microscopy（TEM）
规格/型号	JEM-2100 URP/JEM-2100，INCAX-Max80，832677
生产厂商	日本Jeol Ltd
国别	日本
性能指标	电子枪:LaB6（六硼化镧） 加速电压:80～200kV 相机长度:80～2000nm(SA DIFF) 束斑尺寸:0.5nm～25nm（EDS） 能谱分辨率:Mn Ka保证优于129eV 点分辨率:0.19 nm 线分辨率:0.14 nm 扫描透射图像:（STEM） 放大倍数：50万倍以上 分辨率：1.0nm 功能模式:TEM/ EDS/NBD/CBD/CBED X射线能谱分析 能谱仪探测器有效面积：80mm2 分辨元素范围:B5～Pu94
主要应用	可广泛应用于化学、物理学、地质学、生物学、医学等领域的科研和教学。能对金属、矿物、半导体、陶瓷、纳米材料等固体材料的显微形貌、晶体结构、化学成份、界面结构、表面以及缺陷等进行观察分析。
样品要求	1、粉末样品：为避免粉末脱落污染电镜，粒径需小于1um，请先在显微镜下观察确认。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察； 2、薄膜样品：厚度一般需小于50nm，因材料而异； 3、拒绝接受磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准及不耐电子束轰击类样品、以及易被电磁透镜吸引的粉末样品。